GB/T15717鋁膜測厚儀
簡(jian)要描述:DMT-E GB/T15717鋁(lv)膜(mo)測(ce)厚儀(yi)(yi)是濟南三(san)泉中石實驗儀(yi)(yi)器根(gen)據GB/T15717《真空金屬鍍(du)層厚度測(ce)試(shi)方法---電阻(zu)(zu)法》研(yan)發生(sheng)產的實驗儀(yi)(yi)器,適(shi)用(yong)于各種鍍(du)鋁(lv)薄膜(mo)、鍍(du)鋁(lv)紙測(ce)試(shi)電阻(zu)(zu)值、均勻度、厚度值的測(ce)試(shi)。
產(chan)品(pin)型號: DMT-E
所(suo)屬(shu)分類:滿(man)足GB/T 15717金屬(shu)鍍層(ceng)厚(hou)度儀
更新時(shi)間:2023-05-29
廠商性質:生產廠家
GB/T15717鋁膜測厚儀 金屬鍍層測厚儀
規(gui)格(ge):DMT-E
品牌:sumspring三泉中石
關鍵字:鋁(lv)膜測(ce)厚儀(yi),真(zhen)空(kong)鍍(du)膜厚度測(ce)量(liang)儀(yi),真(zhen)空(kong)鍍(du)鋁(lv)薄膜厚度測(ce)試儀(yi),金屬鍍(du)層(ceng)測(ce)厚儀(yi),鍍(du)鋁(lv)膜鋁(lv)層(ceng)厚度測(ce)量(liang)儀(yi),鍍(du)鋁(lv)薄膜電阻測(ce)厚儀(yi)
DMT-E GB/T15717鋁膜測(ce)厚(hou)儀是(shi)濟南三(san)泉中(zhong)石實驗儀器根據GB/T15717《真空金屬鍍層厚度測試方(fang)法---電阻(zu)法》研發生產的實驗儀(yi)器,適用于各種鍍鋁薄膜(mo)、鍍鋁紙測(ce)試電(dian)阻值(zhi)、均勻度、厚度值(zhi)的測(ce)試。
技術特(te)征
1.微電(dian)腦控制、LCD液(ye)晶顯示、PVC操作(zuo)面板(ban),方便用戶快速、直觀的查看(kan)檢測數據和
結果(guo) 。
2.配置(zhi)微型(xing)打(da)(da)印機,快速打(da)(da)印方塊電阻(zu)值(zhi)、厚度值(zhi)、均勻度 。
3.數據實時顯(xian)示電阻(zu)值、厚度值 。
4.試驗結果記憶功能(neng),方便用戶查詢(xun) 。
5.溫度顯(xian)示功能。
6.高精(jing)度接觸式測量。
技術參數
厚度測量范圍(wei) 厚度50-570Å
方塊電阻(zu)測(ce)量范圍 0.5-5Ω
方塊電阻(zu)測量(liang)精度 ±1%
樣品尺寸 100×100mm
夾(jia)樣精度(du) ±0.1mm
測溫范圍 0~50℃,精度(du)±1℃
外形尺寸 370mm×330mm×450mm (長寬高)
重 量 19kg
工作(zuo)溫度 23℃±2℃
工(gong)作電源 220V 50Hz