電(dian)腦測控耐折度(du)儀【MIT式】用于測定厚度(du)1mm以(yi)下的紙(zhi)(zhi)張、紙(zhi)(zhi)板及(ji)其他(ta)片狀材料(電(dian)子行(xing)業銅箔(bo)片等(deng))耐折疊疲勞強度(du)的儀器(qi)。
MIT式紙(zhi)(zhi)張耐折度(du)測(ce)定儀(yi)產品用途及特(te)點:該儀(yi)器是根據我國國家標準(zhun)GB/T2679.5-1995(紙(zhi)(zhi)和紙(zhi)(zhi)板耐折度(du)的測(ce)定)設計,是光機電一體化結構,能夠對被測(ce)試樣的雙折次(ci)數進行自動計數。
MIT式紙張耐折(zhe)度(du)測定儀產品用途及特點:該(gai)儀器是根據我國國家(jia)標(biao)準GB/T2679.5-1995(紙和紙板(ban)耐折(zhe)度(du)的測定)設計,是光(guang)機(ji)電一體(ti)化結構,能夠對被測試樣(yang)的雙(shuang)折(zhe)次數進(jin)行自(zi)動計數。
紙耐(nai)折(zhe)疊疲勞(lao)強度測定儀哪有(you)賣的?SUMSPRING紙耐(nai)折(zhe)疊疲勞(lao)強度測定儀采用(yong)5寸彩色觸(chu)摸(mo)屏液晶顯示器,操作方便、顯示清晰,統(tong)計同組多個試樣(yang)的實驗數據,同組試樣(yang)的Z大值、Z小值、平 均值和(he)變異系(xi)數,微型打印(yin)機(ji)快速打印(yin)實驗結果。